您的位置：
- 高純鍺（HPGe）探測(cè)器
- 帶電粒子硅探測(cè)器
- 閃爍探測(cè)器
ORTEC是固態(tài)、高分辨率、半導(dǎo)體輻射探測(cè)器的供應(yīng)商。這些輻射探測(cè)器被廣泛用于研究、商業(yè)、環(huán)境保護(hù)、健康和保健物理以及國(guó)土安全領(lǐng)域，以檢測(cè)伽馬射線、X射線和帶電粒子。
作為行業(yè)，ORTEC是在20世紀(jì)70年代早期開發(fā)高純鍺（HPGe）晶體制造的公司。自那時(shí)起，公司通過開發(fā)臺(tái)N型HPGe探測(cè)器和臺(tái)商用電冷HPGe探測(cè)器，繼續(xù)在HPGe探測(cè)器技術(shù)中發(fā)揮著作用。最近，ORTEC發(fā)布了Profile S＆C系列寬能HPGe探測(cè)器和ICS™高級(jí)集成式低溫冷卻系統(tǒng)。
ORTEC還提供了其他幾種用于輻射檢測(cè)的HPGe型號(hào)。客戶可以選擇各種室溫帶電粒子硅探測(cè)器用于α能譜測(cè)量和研究應(yīng)用；或選擇閃爍探測(cè)器用于各種室溫輻射檢測(cè)應(yīng)用。
